개정문
⊙기획재정부령 제685호
관세법 시행규칙 일부개정령을 다음과 같이 공포한다.
2018년 7월 19일
기획재정부장관 (인)
관세법 시행규칙 일부개정령
관세법 시행규칙 일부를 다음과 같이 개정한다.
별표 1을 별지와 같이 한다.
부칙
제1조(시행일) 이 규칙은 공포한 날부터 시행한다.
제2조(관세가 감면되는 산업기술 연구·개발용 물품에 관한 경과조치) 이 규칙 시행 전에 수입신고한 물품에 대해서는 별표 1의 개정규정에도 불구하고 종전의 규정에 따른다.
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[별표 1]
법 제90조제1항제4호에 따라 관세가 감면되는 산업기술 연구·개발용 물품
(제37조제4항제1호 관련)
┌──┬──────┬─────────┬─────────────────────────┐
│연번│관 세 율 표 │품 명 │규 격 │
│ │번 호 │ │ │
│ ├───┬──┤ │ │
│ │호 │소호│ │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│1 │8413 │50 │펌프 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 │
│ │8414 │10 │ │한정한다. │
│ │ │ │ │ 1. 고분자 중합용 다이아프램 펌프(Diaphragm │
│ │ │ │ │Pump)로서 작동가능 온도가 영하 │
│ │ │ │ │50도(℃)부터 영상 150도까지이고 작동가능 │
│ │ │ │ │압력이 35메가파스칼(㎫) 이하인 것 │
│ │ │ │ │ 2. 평판디스플레이 제조용 터보 │
│ │ │ │ │몰레큘러펌프(Turbo molecular Pump)로서 │
│ │ │ │ │진공도(Torr)가 10-3 이하인 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│2 │8419 │89 │냉각기 │영하 35도(℃) 이하로 냉각 또는 냉동할 수 있는 │
│ │ │ │ │것 │
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│3 │8419 │89 │반응기 │반응온도가 75도(℃)부터 350도까지로서, │
│ │ │ │(Reactor) │내부압력이 감압상태인 0.001바(bar)부터 │
│ │ │ │ │가압상태인 120바 이내의 조건에서 중합물을 │
│ │ │ │ │제조할 수 있는 1리터(L) 이상 용량의 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│4 │8419 │89 │열충격시험기 │평판디스플레이, 인쇄회로기판, 반도체소자 또는 │
│ │ │ │(Temperature │반도체모듈의 성능을 시험하는 것으로서, 설정 │
│ │ │ │Shock Test │가능한 최고온도가 영상 100도(℃) 이상이고 │
│ │ │ │Chamber) │최저 온도가 영하 40도 이하인 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│5 │8419 │89 │부식성시험기 │측정 대상물의 부식 정도를 시험할 수 있는 것으 │
│ │9031 │80 │또는 │로서 건조, 습도, 염수, 온도, 이산화탄소 농도, 광 │
│ │ │ │복합사이클부식 │조사(光照射) 또는 결로(結露) 중 두 가지 이상의 │
│ │ │ │시험기 │시험 조건을 설정할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│6 │8419 │89 │항온항습기 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │8479 │89 │(항온기, 항습기 │한다. │
│ │ │ │및 │ 1. 온도의 허용 오차 범위가 ±3.0도(℃) │
│ │ │ │항습배양기를 │이하이거나 습도의 허용 오차 범위가 │
│ │ │ │포함한다) │±5퍼센트(%) 이하인 것 │
│ │ │ │ │ 2. 사용온도가 영상 100도 이상이거나 영하 │
│ │ │ │ │40도 이하인 것 │
│ │ │ │ │ 3. 70분 내에 영하 40도에서 영상 150도까지 │
│ │ │ │ │온도를 상승시킬 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│7 │8419 │89 │온도습도시험기 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │8479 │89 │또는 │한다. │
│ │9031 │80 │고온고습시험기 │ 1. 온도를 영하 20도(℃)부터 영상 100도까지 │
│ │ │ │ │설정할 수 있고, 상대 습도(RH)를 │
│ │ │ │ │20퍼센트(%)부터 98퍼센트까지 설정할 수 │
│ │ │ │ │있는 것 │
│ │ │ │ │ 2. 챔버(Chamber) 내부의 온도를 105도부터 │
│ │ │ │ │150도까지 조절할 수 있고 챔버 내부의 상대 │
│ │ │ │ │습도(RH)를 65퍼센트부터 100퍼센트까지 │
│ │ │ │ │조절할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│8 │8419 │89 │환경 챔버 │온도, 습도, 시간, 조명도(照明度) 또는 사이클 │
│ │8479 │89 │(Chamber) │(Cycle)의 조정이 가능한 것으로서 다음 각 호의 │
│ │9031 │80 │(항온항습챔버 │어느 하나에 해당하는 것으로 한정한다. │
│ │ │ │를 포함한다) │ 1. 온도의 허용 오차 범위가 ±3.0도(℃) 이하인 │
│ │ │ │ │것 │
│ │ │ │ │ 2. 습도의 허용 오차 범위가 ±5.0퍼센트(%) │
│ │ │ │ │이하인 것 │
│ │ │ │ │ 3. 열 스트레스(stress)를 가함으로써 시료의 │
│ │ │ │ │열내구성을 측정할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│9 │8421 │19 │원심 분리기 │원심 분리 1회 용적이 250밀리리터(mL) │
│ │ │ │(Centrifugal │이상이고 분당 회전수가 30,000알피엠(rpm) │
│ │ │ │Separator) │이상이며 원심분리기내 재료가 받는 힘의 │
│ │ │ │ │크기가 20,000 중력(G) 이상인 것 │
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│10 │8424 │89 │수용성 미스트 │유해물질을 함유하지 않은 전용의 수용성 미스 │
│ │ │ │분사장치 │트액을 분사시켜주는 장치인 것 │
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│11 │8424 │20 │전동유동코팅건 │리튬이차전지용으로 코팅용 용액을 투입하여 원 │
│ │8479 │89 │조기 │재료를 코팅하는 방식인 것으로서 다음 각 호의 │
│ │ │ │ │요건을 모두 충족하는 것일 것 │
│ │ │ │ │ 1. 급기(給氣) 온도가 60도(℃)부터 80도까지일 │
│ │ │ │ │것 │
│ │ │ │ │ 2. 급기 풍량이 분당 0.2세제곱미터(㎥)부터 1.0 │
│ │ │ │ │세제곱미터까지일 것 │
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│12 │8455 │10 │관 압연기 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │8479 │89 │(Tube Mills), │한다. │
│ │ │ │공압확관기 │ 1. 0.2밀리미터(㎜) 이하의 압연판재를 튜브 │
│ │ │ │(Air Pressure │(Tube) 형상으로 가공할 수 있는 것 │
│ │ │ │Expander) │ 2. 30메가파스칼(㎫) 이하의 고압 공기로 │
│ │ │ │ │바깥지름이 9.52밀리미터 이하의 관(Tube) │
│ │ │ │ │내부 형상을 가공할 수 있는 것 │
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│13 │8456 │11 │레이저 │가공점 위치의 오차 범위가 ±3마이크로미터(㎛) │
│ │ │ │가공장치 또는 │이하인 것 │
│ │ │ │레이저 마커 │ │
│ │ │ │(Laser Marker) │ │
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│14 │8456 │11 │ 이온빔 장치 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │8456 │12 │(Ion Beam │한다. │
│ │8456 │90 │System) │ 1. 이온빔(Ion Beam) 또는 전자빔(Electron │
│ │8479 │89 │[집속(集束) │Beam)을 이용하여 반도체웨이퍼 또는 │
│ │9012 │10 │이온빔 장치를 │시편(試片)을 가공할 수 있는 것 │
│ │ │ │포함한다], │ 2. 투과전자현미경(Transmission Electron │
│ │ │ │이온밀링장치 │Microscope) 또는 주사전자현미경(Scanning │
│ │ │ │(Ion Milling │Electron Microscope)을 이용하여 제품의 │
│ │ │ │System) │불량 여부를 분석하거나, 분석을 위한 │
│ │ │ │(이온빔 │박편(薄片) 및 단면시료(試料)의 제작이 가능한 │
│ │ │ │식각장치를 │것 │
│ │ │ │포함한다) │ 3. 플라스마 이온빔(Plasma Ion Beam)을 │
│ │ │ │ │시편(試片)에 직접 조사(照射)하여 전하를 띠게 │
│ │ │ │ │하는 것 │
│ │ │ │ │ 4. 가속전압이 1킬로볼트(㎸) 이상 40킬로볼트 │
│ │ │ │ │이하인 아르곤(Ar) 또는 갈륨(Ga) 이온총(Ion │
│ │ │ │ │Gun)을 장착한 것 │
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│15 │8456 │11 │레이저발진기 │레이저 파장이 1,340나노미터(㎚) 이하인 것 │
│ │9013 │20 │ │ │
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│16 │8456 │30 │절단기, │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │8479 │89 │마이크로클리빙 │한다. │
│ │9027 │90 │기 │ 1. 웨이퍼(Wafer), 시편(試片), 이차전지용 │
│ │ │ │(Cleaving │전해질 필름, 완성반도체(한 개의 기판에 │
│ │ │ │Machine) │봉합된 다수의 반도체를 포함한다) 또는 │
│ │ │ │또는 │반도체 반제품을 절단하거나 │
│ │ │ │와이어커팅기 │클리브(Cleave)할 수 있는 것 │
│ │ │ │(Wire Cutting │ 2. 와이어 이송속도(Wire Feed Speed)가 분당 │
│ │ │ │Machine) │2,000밀리미터(㎜) 이상인 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│17 │8456 │90 │연마기, │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │8460 │24 │연마기시스템 │한다. │
│ │8460 │40 │또는 광택기 │ 1. 반도체, 웨이퍼, 웨이퍼상의 수지(Resin), │
│ │8460 │90 │ │평판디스플레이, 평판디스플레이용 │
│ │8464 │20 │ │글래스(Glass), 인쇄회로기판, 웜샤프트(Worm │
│ │ │ │ │Shaft), 스퀴지(Squeegee) 또는 │
│ │ │ │ │패키지몰드(Package Mold) 연마용인 것 │
│ │ │ │ │ 2. 상판과 하판을 동시에 연마가공할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 3. 수분을 포함한 습식연마재를 사용하여 곡면과 │
│ │ │ │ │요철 부위를 연마할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 4. 버티컬(Vertical) 방식으로 절삭공구, 기어 │
│ │ │ │ │등의 내경을 연마가공할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 5. 전자현미경 분석을 위한 시편 가공장치로서 │
│ │ │ │ │전해액을 이용하여 연마작업을 할 수 있는 것 │
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│18 │8457 │10 │머시닝센터 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │8458 │11 │(Machining │한다. │
│ │ │ │Center) 또는 │ 1. 선반과 밀링(milling)을 융합한 │
│ │ │ │터닝머신 │복합가공기능이 있는 것. │
│ │ │ │ │ 2. 복합머시닝센터로서 머시닝(machining), 선삭 │
│ │ │ │ │및 연삭기능을 모두 융합한 복합가공기능이 │
│ │ │ │ │있는 것 │
│ │ │ │ │ 3. 수치제어방식으로서 보조회전축(Sub- │
│ │ │ │ │spindle)을 활용하여 앞뒤로 절삭가공이 │
│ │ │ │ │가능한 것 │
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│19 │8460 │24 │연삭기 │수치제어 방식으로서 다음 각 호의 어느 하나에 │
│ │8460 │29 │ │해당하는 것으로 한정한다. │
│ │8460 │31 │ │ 1. 기어 프로파일(Gear Profile) 연삭이 가능한 │
│ │8460 │39 │ │것 │
│ │8461 │40 │ │ 2. 기어 호브 커터(Gear Hob Cutter) 또는 │
│ │ │ │ │브로치 커터(Broach Cutter)의 │
│ │ │ │ │프로파일(Profile)이나 날 연삭이 가능한 것 │
│ │ │ │ │ 3. 드릴, 엔드밀 또는 인서트(Insert)의 홈, │
│ │ │ │ │여유면, 날끝각(Point) 또는 스플릿 │
│ │ │ │ │포인트(Split Point)를 가공하는 │
│ │ │ │ │전용연삭기로서, 가공지름이 0.05밀리미터(㎜) │
│ │ │ │ │이상 80밀리미터(㎜) 이하인 것 │
│ │ │ │ │ 4. 스카이빙(Skiving) 공구를 장착하여 │
│ │ │ │ │내치기어(Internal Gear) 또는 │
│ │ │ │ │외치기어(External Gear)를 가공할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 5. 3차원 형상의 공구를 연삭할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 6. 제품의 외경과 단면을 동시에 연삭할 수 있는 │
│ │ │ │ │것 │
│ │ │ │ │ 7. 패널레벨패키징(PLP)기판을 휠(wheel)로 │
│ │ │ │ │연마하여 평탄화할 수 있는것 │
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│20 │8460 │40 │호닝 머신 │서보(Servo) 모터로 작동하는 상하구동식 연마기 │
│ │ │ │(Honing │로서, 내부 지름이 12밀리미터(㎜) 이상 50밀리미 │
│ │ │ │Machine) │터 이하인 물체를 연마할 수 있는 것 │
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│21 │8462 │21 │정밀금속절곡기 │자동으로 철제강판을 전단(Shearing) 및 절곡 │
│ │8462 │29 │(Bending │(Bending)할 수 있는 것으로서 2차원 또는 3차원 │
│ │8462 │99 │Machine) │형상가공 시 가공오차 범위가 ±0.3밀리미터(㎜) │
│ │8479 │89 │ │이하인 것 │
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│22 │8462 │99 │등방가압 │압력용기의 내부 지름이 130밀리미터(㎜) 이상이 │
│ │8479 │89 │(等方加壓) │거나 압력용기의 길이가 400밀리미터 이상이고, │
│ │ │ │프레스 │최대 500메가파스칼(㎫) 이상의 압력을 가할 수 │
│ │ │ │ │있는 것 │
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│23 │8463 │90 │3차원 프린터 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │8477 │59 │(3D Printer) │한다. │
│ │8479 │89 │ │ 1. 0.05밀리미터(㎜) 이상의 정밀 적층(積層)이 │
│ │ │ │ │가능한 것 │
│ │ │ │ │ 2. 20마이크로미터(㎛) 이하의 선폭으로 │
│ │ │ │ │패터닝(patterning)이 가능한 것 │
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│24 │8477 │10 │사출성형기 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │8477 │59 │또는 │한다. │
│ │8479 │81 │필름성형기 │ 1. 프레스(Press) 방식인 것으로서, 비구면 │
│ │8479 │89 │ │실리콘렌즈 또는 비구면 유리의 성형이 │
│ │ │ │ │가능하거나 성형압력이 300바(?) 이상인 것 │
│ │ │ │ │ 2. 수지 또는 금속 사출장치와 액상 주입장치를 │
│ │ │ │ │모두 갖추고 있는 것 │
│ │ │ │ │ 3. 스크류 구동방식이 전동식인 것 │
│ │ │ │ │ 4. 특수사출기로서 이중사출과 350톤(ton) │
│ │ │ │ │이상의 형체력을 갖는 사출압축이 모두 │
│ │ │ │ │가능한 것 │
│ │ │ │ │ 5. 50마이크로미터(㎛) 이하의 필름을 성형할 수 │
│ │ │ │ │있는 것 │
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│25 │8477 │20 │압출기 │1축 또는 2축 압출가공(押出加工) 연구용으로서 │
│ │ │ │ │온도제어 범위가 100도(℃) 이상 400도 이하인 │
│ │ │ │ │것 │
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│26 │8477 │80 │타이어 │타이어를 고정할 수 있는 지그(Jig)와 │
│ │ │ │버핑(Buffing)기 │버핑(Buffing)용 샌드페이퍼가 설치되어 있고, │
│ │ │ │ │고무 분진을 모을 수 있는 집진기가 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│27 │8479 │50 │동작제어기 │서보(Servo) 모터를 구동하여 3축 이상의 로봇동 │
│ │8537 │10 │(Motion │작을 구현할 수 있는 것 │
│ │ │ │Controller) │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│28 │8479 │81 │세척기 또는 │웨이퍼, 시편(試片), 마스크, 마스크용기, 레티클 │
│ │8479 │89 │세정기 │(Reticle), 레티클 용기, 반도체, 유기발광다이오드 │
│ │ │ │ │기판, 절삭공구류 표면의 산화막, 유기물, 웨이퍼 │
│ │ │ │ │카세트(Wafer Cassette), 웨이퍼 프레임(Wafer │
│ │ │ │ │Frame) 또는 인쇄회로기판을, 화공약품, 초음파, │
│ │ │ │ │플라스마(Plasma), 자외선, 깨끗한 물, 스프레이, │
│ │ │ │ │반응가스(Ar, O2, H2) 또는 증기를 이용하여 세척 │
│ │ │ │ │할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│29 │8479 │81 │도금기, │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │8479 │89 │도포기(Coater) │한다. │
│ │8486 │30 │또는 코팅머신 │ 1. 자동차 피스톤링(Piston Ring)에 │
│ │8543 │30 │(Coating │다이아몬드-라이크 카본(DLC, Diamond Like │
│ │ │ │Machine) │Carbon) 또는 4면체 비정질 탄소(TAC, │
│ │ │ │ │Tetrahedral Amorphous Carbon)를 코팅할 │
│ │ │ │ │수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 2. 로드(Rod) 증발원을 탑재하여 아크 스팟(Arc │
│ │ │ │ │Spot)의 위치와 막 두께의 분포를 자동으로 │
│ │ │ │ │제어할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 3. 디스펜서(Dispenser) 방식(패턴형성기능을 │
│ │ │ │ │포함한다), 전자빔(Electron Beam) 방식, 회전 │
│ │ │ │ │방식, 이온빔(Ion Beam) 방식, │
│ │ │ │ │스프레이코터(Spray Coater) 방식 또는 │
│ │ │ │ │슬롯다이(Slot-die) 방식 또는 담금(Dipping) │
│ │ │ │ │방식인 것 │
│ │ │ │ │ 4. 자동차 피스톤링(PistonRing)이 │
│ │ │ │ │고착(Sticking)되는 현상을 방지하는 │
│ │ │ │ │코팅(RNS-M, Anti-sticking Coating)을 할 수 │
│ │ │ │ │있는 것 │
│ │ │ │ │ 5. 0.4밀리미터(㎜) 이상 1밀리미터 이하의 │
│ │ │ │ │두께로 컬러(Color) 코팅이 가능한 것 │
│ │ │ │ │ 6. 2개 이상의 재료를 멀티 코팅(multi layer │
│ │ │ │ │coating)할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 7. 가로 415밀리미터 × 세로 510밀리미터, │
│ │ │ │ │가로 400밀리미터 × 세로 500밀리미터 │
│ │ │ │ │크기의 인쇄회로기판에 전기동의 도금이 │
│ │ │ │ │가능한 것 │
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│30 │8479 │82 │혼합기 │실험용 소형 분쇄혼합기로서 혼합과 분쇄 기능이 │
│ │ │ │ │있는 것 │
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│31 │8479 │89 │포집기 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │ │ │(Collector) 또는 │한다. │
│ │ │ │가스농축기 │ 1. 평판디스플레이용 유기기판에 열탈착을 │
│ │ │ │ │이용하여 고체, 액체 또는 기체로부터 미량의 │
│ │ │ │ │휘발성분을 포집할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 2. 자외선 경화형 수지(Resin), 플라스틱 또는 │
│ │ │ │ │평판디스플레이의 샘플에 자외선을 │
│ │ │ │ │조사(照射)하거나 가열 시 발생되는 가스를 │
│ │ │ │ │포집하여 농축할 수 있는 것 │
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│32 │8479 │89 │고농도 알칼리 │수소이온농도가 13.1피에이치(pH)부터 13.2피에 │
│ │ │ │이온수 │이치까지인 고농도 알칼리 이온수 80리터(L)를 │
│ │ │ │생성장치 │연속 생성하여 내부 펌프로 외부로부터 급수하 │
│ │ │ │ │는 장치인 것 │
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│33 │8479 │89 │가스분무 │금속분말을 제조하는 장비로서 최대 1,600도(℃) │
│ │ │ │분말제조기 │의 온도로 금속 등을 용해하여 가스와 함께 분사 │
│ │ │ │(Gas Atomizer) │할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│34 │8479 │89 │자동열탈착기 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │ │ │(Automated │한다. │
│ │ │ │Thermal │ 1. 시료 중의 휘발성 물질을 열탈착시켜 │
│ │ │ │Desorber) │흡착튜브에 흡착·포집한 후 가스 │
│ │ │ │또는 │크로마토그래피(Gas Chromatography)에 │
│ │ │ │퀴리(Curie)점 │주입하여 분석할 수 있는 것 │
│ │ │ │열분해기 │ 2. 전류가 흐르는 동안 퀴리점을 유지시키면서 │
│ │ │ │ │발생되는 시료의 열분해물 샘플을 가스 │
│ │ │ │ │크로마토그래피(Gas Chromatography)에 │
│ │ │ │ │주입하여 분석할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 3. 시료 중의 휘발성 물질을 열탈착시킨 후 │
│ │ │ │ │질량에 따라 분리하여 정량 또는 정성 분석을 │
│ │ │ │ │할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│35 │8479 │89 │칩 마운터 │인쇄회로기판 표면 위에 각종 칩, 능동·수동소자 │
│ │ │ │(Chip Mounter) │등의 전자부품을 자동으로 탑재하고 부착할 수 있 │
│ │ │ │ │는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│36 │8479 │89 │다이(Die) │스테이지(Stage)와 헤드(Head)의 온도를 │
│ │ │ │부착기 │제어하여 칩(Die)을 기판(Core)에 부착할 수 │
│ │ │ │ │있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│37 │8479 │89 │바렐형 증착기 │증착하려는 재료의 수가 2개 이상이며, 전도성 │
│ │ │ │(Barrel │또는 절연체 재료에 증착이 가능한 것 │
│ │ │ │Sputter) │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│38 │8479 │89 │제진대(除震臺) │건물 진동을 제어하는 것으로서 액티브 타입 │
│ │8543 │70 │또는 │(Active Type)인 것 │
│ │ │ │자동제진시스템 │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│39 │8479 │89 │저온필터 │경유의 저온필터 막힘점 평가용으로 │
│ │9025 │80 │막힘점 시험기 │미국재료시험협회(American Society for │
│ │9031 │80 │ │Testing and Materials)의 │
│ │ │ │ │경유저온필터막힘점시험법(D6371)의 시험이 │
│ │ │ │ │가능한 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│40 │8479 │89 │연료전지 │최대출력이 10킬로와트(㎾) 이상 100킬로와트 이 │
│ │9030 │39 │평가장비 │하인 연료전지의 스택(Stack)을 평가할 수 있는 │
│ │9030 │84 │ │것 │
│ │9030 │89 │ │ │
│ │9031 │80 │ │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│41 │8479 │89 │성능 시험기 │반도체, 메모리모듈, 인쇄회로기판, │
│ │9030 │84 │또는 성능 │평판디스플레이, 평판디스플레이용 장비 또는 │
│ │9030 │89 │측정기 │태양전지의 전기적, 물리적, 광학적 또는 화학적 │
│ │9031 │49 │ │특성을 측정, 시험 또는 검사하는 것 │
│ │9031 │80 │ │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│42 │8486 │30 │리페어기 │평판디스플레이의 회로를 레이저 빔(Laser │
│ │ │ │(Review │Beam) 또는 연마테이프를 이용하여 수정할 수 있 │
│ │ │ │Repair) │는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│43 │8502 │39 │전원 공급기 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │8504 │33 │또는 전압 │한다. │
│ │8504 │34 │공급기 │ 1. 전압이 35볼트(V) 이상이거나 전류가 │
│ │8504 │40 │ │2암페어(A) 이상인 것 │
│ │8537 │10 │ │ 2. 정격 출력이 2메가볼트암페어(㎹A) │
│ │ │ │ │이상이거나 1킬로와트(㎾) 이상인 것 │
│ │ │ │ │ 3. 임의파(Arbitrary Waveform) 발생이 가능한 │
│ │ │ │ │것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│44 │8514 │10 │노(爐, │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │8514 │20 │Furnace), 오븐, │한다. │
│ │8514 │30 │열처리장치 │ 1. 전기로(電氣爐)로서 최고온도가 500도(℃) │
│ │8514 │40 │또는 │이상이고 온도의 허용 오차 범위가 ±8도 │
│ │ │ │열압축가공기 │이하인 것 │
│ │ │ │ │ 2. 가열 시 내부 온도를 측정할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 3. 전기가열방식의 열처리장치로서 │
│ │ │ │ │진공상태에서 최고온도가 1,200도 이상인 것 │
│ │ │ │ │ 4. 온도를 설정할 수 있고 노 내부에 산소제거를 │
│ │ │ │ │위하여 질소 또는 아르곤을 충전할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 5. 외부공기가 시간당 60회 이상 순환되고, │
│ │ │ │ │전기가열 방식을 통하여 온도를 상온에서 │
│ │ │ │ │300도까지 조절할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 6. 열을 표본에 잘 전달하기 위한 고리가 │
│ │ │ │ │장착되어있고 분당 5회 이상 10회 이하로 │
│ │ │ │ │회전하며 과열감지기가 설치되어 있는 것 │
│ │ │ │ │ 7. 자동차 피스톤 링(Piston Ring)의 │
│ │ │ │ │귀부(Tab)에 30마이크로미터(㎛) 이상의 │
│ │ │ │ │질화층(깊이)을 형성할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│45 │8525 │80 │열화상카메라, │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9025 │19 │산업용 │한다. │
│ │9031 │80 │내시경카메라 │ 1. 초당 30프레임(Frame) 이상을 처리할 수 │
│ │ │ │또는 근적외선 │있는 것 │
│ │ │ │카메라 │ 2. 적외선을 이용하는 것으로서 분광(Spectrum) │
│ │ │ │ │범위의 최대 값이 10마이크로미터(㎛) 이상인 │
│ │ │ │ │것 │
│ │ │ │ │ 3. 적외선 발광소자의 발광량을 측정할 수 있는 │
│ │ │ │ │카메라로서 측정 가능한 파장영역이 │
│ │ │ │ │0.9마이크로미터 이상 1.7마이크로미터 이하의 │
│ │ │ │ │센서를 갖춘 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│46 │8537 │10 │스위치제어 │최대 제어 가능한 스위치의 수가 20개 이상인 것 │
│ │8543 │70 │시스템 │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│47 │8537 │10 │피로시험기 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9024 │10 │또는 │한다. │
│ │9024 │80 │내구시험기 │ 1. 유압방식, 자기 공명 주파수(Magnetic │
│ │9031 │80 │ │Resonance Frequency)방식 또는 │
│ │ │ │ │모터구동방식으로서, 온도 변화의 피로시험을 │
│ │ │ │ │수행하거나 내구[인장(引張), 굽힘, 압축 또는 │
│ │ │ │ │비틀림] 피로시험을 수행할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 2. 자동차용 타이어의 피로수명(내구력)을 │
│ │ │ │ │측정할 수 있는 것으로서 속도, 하중, 시간, │
│ │ │ │ │슬립(Slip) 또는 캠버(Camber)를 조절할 수 │
│ │ │ │ │있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│48 │8543 │20 │신호발생기, │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │8543 │70 │시그널에뮬레이 │한다. │
│ │9030 │84 │터(Signal │ 1. 평판디스플레이패널을 구동하기 위한 │
│ │9030 │89 │Emulator), │영상신호를 발생시키는 것 │
│ │ │ │주파수발생기, │ 2. 감쇠(減衰) 정현파(Sine Curve) 발생용으로서 │
│ │ │ │과도파형 │발생주파수가 100메가헤르츠(㎒) 이상인 것 │
│ │ │ │발생기, │ 3. 입력채널(Channel) 수가 4개 이상인 것 │
│ │ │ │펄스발생기 │ 4. 주파수가 2,450메가헤르츠 이상인 것 │
│ │ │ │또는 펑션 │ 5. 에이엠(AM, Amplitude Modulation) 변조, │
│ │ │ │임의파형 │에프엠(FM, Frequency Modulation) 변조 │
│ │ │ │발생기(Function │또는 무변조캐리어(CW, Continuous Wave)가 │
│ │ │ │Generator) │가능한 것 │
│ │ │ │ │ 6. 1헤르츠(㎐) 이하의 저주파 발생이 가능한 것 │
│ │ │ │ │ 7. 전압을 걸어 무선주파수(Radio Frequency)로 │
│ │ │ │ │전력을 송출할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 8. 임의파(Arbitrary Wave-form) 발생이 │
│ │ │ │ │가능한 것 │
│ │ │ │ │ 9. 단락 전류(Short Circuit current)가 │
│ │ │ │ │300암페어(A) 이하인 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│49 │8543 │70 │주파수 교정기 │교정 가능한 무선 주파수의 범위가 │
│ │ │ │ │300킬로헤르츠(㎑)이상 9기가헤르츠(㎓)이하인 │
│ │ │ │ │것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│50 │8543 │70 │무선 주파수 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │ │ │신호 수신기 │한다. │
│ │ │ │ │ 1. 방송신호를 기록할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 2. 방송신호가 갈무리(Capture)된 기기로부터 │
│ │ │ │ │기록된 신호를 공유하는 방법으로 신호를 │
│ │ │ │ │재생할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│51 │8543 │70 │신호분석기, │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9030 │33 │신호소스분석기 │한다. │
│ │9030 │39 │또는 │ 1. 부호분할다중접속(CDMA), │
│ │9030 │84 │신호측정기 │이동통신세계화시스템(GSM), │
│ │9030 │89 │ │위성위치확인시스템(GPS), │
│ │ │ │ │광대역부호분할다중접속(WCDMA), │
│ │ │ │ │고속하향패킷접속(HSDPA), 엘티이(LTE), │
│ │ │ │ │글로나스(GLONASS) 또는 │
│ │ │ │ │고속상향패킷접속(HSUPA)의 신호를 측정할 │
│ │ │ │ │수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 2. 입력 주파수가 30킬로헤르츠(㎑) 이상이거나 │
│ │ │ │ │주파수 범위가 3헤르츠(㎐) 이상인 것 │
│ │ │ │ │ 3. 무선주파수(Radio Frequency) 또는 │
│ │ │ │ │전자기파(EM) 신호의 특성을 측정 및 분석 │
│ │ │ │ │가능한 것 │
│ │ │ │ │ 4. 주파수 범위가 최소 9킬로헤르츠 이상이고 │
│ │ │ │ │최대 3기가헤르츠(㎓) 이하인 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│52 │8543 │70 │정전기 시험기 │발생 정전기의 전압이 2킬로볼트(㎸) 이상인 것 │
│ │9030 │39 │ │ │
│ │9030 │84 │ │ │
│ │9030 │89 │ │ │
│ │9031 │80 │ │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│53 │9010 │50 │노광기(Stepper) │레이저를 사용하여 감광성수지를 경화시키고 인 │
│ │ │ │ │쇄회로기판 제작을 위한 이미지를 형성할 수 있는 │
│ │ │ │ │것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│54 │9011 │10 │현미경 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9011 │20 │ │한다. │
│ │9011 │80 │ │ 1. 전자총이 전계방사(Field Emission)형인 것 │
│ │9012 │10 │ │ 2. 2,600파스칼(㎩) 이상의 저진공 상태에서 │
│ │9031 │80 │ │시료를 관찰할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 3. 광학현미경(Optical Microscope) 또는 │
│ │ │ │ │형광현미경(Fluorescent Microscope)으로서 │
│ │ │ │ │영상을 촬영할 수 있고 컴퓨터와 연결할 수 │
│ │ │ │ │있는 것 │
│ │ │ │ │ 4. 투과전자현미경(TEM, Transmission │
│ │ │ │ │Electron Microscope) 또는 │
│ │ │ │ │주사형투과전자현미경(STEM, Scanning │
│ │ │ │ │Transmission Electron Microscope)인 것 │
│ │ │ │ │ 5. 주사전자현미경(SEM, Scanning Electron │
│ │ │ │ │Microscope)으로서 시료의 표면 상태를 │
│ │ │ │ │감지하고 분석할 수 있으며 영상처리할 수 │
│ │ │ │ │있는 것 │
│ │ │ │ │ 6. 광학현미경으로서 입자크기, 표면의 크기, 홀 │
│ │ │ │ │또는 깊이를 측정할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 7. 디지털마이크로현미경으로서 3차원 │
│ │ │ │ │프로파일을 구현할 수 있거나 3차원 측정이 │
│ │ │ │ │가능한 것 │
│ │ │ │ │ 8. 초음파방식 현미경(Scanning Acoustic │
│ │ │ │ │Microscope)으로서 관찰대상을 손상 또는 │
│ │ │ │ │파괴하지 않고 물 등의 액체에 넣은 채로 │
│ │ │ │ │내부의 결함 여부를 이미지로 관찰할 수 있는 │
│ │ │ │ │것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│55 │9018 │19 │혈압측정기 │0.1초 이내의 간격으로 연속 혈압측정이 │
│ │ │ │ │가능하고 광용적맥파(PPG)와 심전도(ECG) │
│ │ │ │ │신호를 동시에 측정할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│56 │9022 │19 │분광분석기, │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9022 │29 │형광분석기, │한다. │
│ │9030 │84 │에너지 분산형 │ 1. 시료에 이온, 이온빔, 레이저, 전자빔 또는 │
│ │9030 │89 │분광분석기 │엑스선을 주사(走査)하여 방출되는 에너지 중, │
│ │9031 │49 │또는 파장 │엑스선 또는 광(光)전자를 에너지 │
│ │9031 │80 │분산형 │준위별(準位別)로 분광시켜 시료를 정성 및 │
│ │ │ │엑스선형광분석 │정량 분석할 수 있는 것 │
│ │ │ │기 │ 2. 컴퓨터 제어방식인 것으로서 주파수가 │
│ │ │ │ │50킬로헤르츠(㎑) 이상인 것 │
│ │ │ │ │ 3. 분광 영역이 100나노미터(㎚) 이상이거나 │
│ │ │ │ │60광학채널(Channel) 이상인 것 │
│ │ │ │ │ 4. 2차원 유기성분 분석이 가능한 적외선 분광분 │
│ │ │ │ │석 장치로서 전자식 현미경이 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│57 │9022 │19 │두께측정기, │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9024 │10 │표면측정기 │한다. │
│ │9024 │80 │또는 휨측정기 │ 1. 평판디스플레이, 평판디스플레이용 │
│ │9031 │49 │ │글래스(Glass), 반도체, 반도체용 마스크, │
│ │9031 │80 │ │반도체부품, 웨이퍼, 웨이퍼 시료, 렌즈웨이퍼, │
│ │ │ │ │이차전지 박막, 태양전지 박막, 연료전지 박막, │
│ │ │ │ │인쇄회로기판, 적층세라믹콘덴서(MLCC, │
│ │ │ │ │Multi-Layer Ceramic Capacitor) 내부 전극 │
│ │ │ │ │또는 광학용 필름의 측정기로서, 두께, 막질의 │
│ │ │ │ │두께, 회로선 폭, 입자, 흠집, 단면상태, 뒤틀림 │
│ │ │ │ │또는 굴곡상태를 측정할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 2. 굴곡상태 또는 표면조도(表面照度)를 측정할 │
│ │ │ │ │수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 3. 측정범위가 제트(Z)축은 │
│ │ │ │ │800마이크로미터(㎛), 엑스(X)축은 │
│ │ │ │ │100밀리미터(㎜)이고, 측정분해능이 │
│ │ │ │ │800마이크로미터 이하에서는 │
│ │ │ │ │0.01마이크로미터 이하, 80마이크로미터 │
│ │ │ │ │이하에서는 0.001마이크로미터 이하, │
│ │ │ │ │8마이크로미터 이하에서는 │
│ │ │ │ │0.0001마이크로미터 이하인 것 │
│ │ │ │ │ 4. 표면 막의 선얼룩 및 점얼룩을 검출 할수 │
│ │ │ │ │있는 것 │
│ │ │ │ │ 5. 그림자식 모아레(moire) 간섭계를 이용하여 │
│ │ │ │ │물체의 굴곡상태를 측정할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│58 │9022 │19 │엑스선형광분석 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9030 │89 │기(파장 │한다. │
│ │ │ │분산형을 │ 1. 형광(Fluorescence), 회절(Diffraction), │
│ │ │ │포함한다), │분광(Spectrum) 또는 │
│ │ │ │엑스선측정기, │분광광도(Spectrometry)의 기능이 있는 것 │
│ │ │ │엑스선시험기 │ 2. 엑스선을 이용한 영상처리장치로서, │
│ │ │ │또는 │디지털표시방식이거나 화상분석이 가능한 것 │
│ │ │ │엑스선검사기 │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│59 │9022 │19 │비파괴검사기, │엑스선 방식, 초음파(Ultrasonic Wave) 방식, 레 │
│ │9031 │80 │휴대용 │이저 방식 또는 자기장(Magnetic Field) 방식인 │
│ │ │ │X-ray장비 │것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│60 │9024 │10 │만능시험기, │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9024 │80 │접착강도시험기, │한다. │
│ │9031 │80 │강도시험기 │ 1. 재료의 강도 특성 또는 접합강도 특성 │
│ │ │ │또는 │측정용으로서 파괴인성, 파열강도, 충격강도 │
│ │ │ │강성측정기 │또는 압축강도를 측정할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 2. 공압을 이용한 낙중방식으로써 시편(試片)의 │
│ │ │ │ │파괴를 통하여 충격강도를 측정하는 것 │
│ │ │ │ │ 3. 힘의 용량을 1킬로뉴턴(kN)까지 측정할 수 │
│ │ │ │ │있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│61 │9024 │10 │경도시험기, │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9024 │80 │마모시험기 │한다. │
│ │9031 │80 │또는 │ 1. 비커스(Vickers) 방식, 탐침(探針) 방식, │
│ │ │ │인장시험기 │연필심 방식, 스크래치 방식 또는 쇼어(Shore) │
│ │ │ │ │방식인 것 │
│ │ │ │ │ 2. 회전 속도가 분당 200회 이상인 것 │
│ │ │ │ │ 3. 고정된 시편(試片)의 아래 판이 움직일 때 │
│ │ │ │ │시편에 부과되는 힘을 측정하는 방법으로 │
│ │ │ │ │고무나 플라스틱 등의 마찰계수를 측정할 수 │
│ │ │ │ │있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│62 │9024 │80 │필름 장력 │구간별 장력 측정의 분해능이 │
│ │ │ │측정기 │50뉴턴(N)기준에서 오차범위 │
│ │ │ │(Roller │±1퍼센트(%)이내까지 측정이 가능한 것 │
│ │ │ │Tension │ │
│ │ │ │Measuring │ │
│ │ │ │Instrument) │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│63 │9024 │80 │열변형 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9031 │80 │온도시험기 │한다. │
│ │ │ │ │ 1. 온도 측정 범위가 200도(℃) 이상인 것 │
│ │ │ │ │ 2. 측정 물체에 가해지는 하중(Force Range)이 │
│ │ │ │ │50뉴턴(N) 이하인 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│64 │902 │10 │2축 동특성 │부시(bush)류의 다축 동강성을 측정하는 │
│ │4 │80 │측정기 │장비로서 좌우방향으로 하중을 부가한 상태에서 │
│ │903 │ │ (2-Axial │상하방향으로 700헤르츠(㎐) 이상의 주파수 │
│ │1 │ │Elastomer │측정이 가능한 것 │
│ │ │ │Performance │ │
│ │ │ │Test System) │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│65 │9025 │19 │열상(熱像) │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9025 │80 │분포측정기, │한다. │
│ │9031 │80 │온도측정기, │ 1. 영상기록이 가능한 것으로서 온도의 허용 │
│ │ │ │온도측정계 │오차 범위가 ±5퍼센트(%) 이하인 것 │
│ │ │ │또는 │ 2. 측정 온도의 허용 오차 범위가 ±1.5도(℃) │
│ │ │ │표면온도측정장 │이하인 것 │
│ │ │ │치 │ 3. 적외선을 이용한 열상(熱像) 기록이 가능한 │
│ │ │ │ │것 │
│ │ │ │ │ 4. 접촉식으로 온도를 측정하는 것 │
│ │ │ │ │ 5. 여러 곳의 표면 온도를 동시에 측정할 수 │
│ │ │ │ │있는 것으로서 동시 측정 가능한 │
│ │ │ │ │채널(Channel)이 8채널 이상인 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│66 │902 │19 │윤활유 소포성 │윤활유의 기포성을 측정하는 장비로 │
│ │5 │80 │시험기 │미국재료시험협회(American Society for │
│ │903 │ │ │Testing and Materials)의 윤활유 기포성 │
│ │1 │ │ │시험법(D892)을 만족하고 온도측정범위가 │
│ │ │ │ │24도(℃)부터 93.5도까지인 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│67 │902 │10 │입자상물질 │입자상물질 채취(採取)부의 필터온도를 │
│ │7 │49 │측정기 │47도(℃)를 기준으로 ±5도이내로 제어가 가능 │
│ │903 │80 │ │한 것 │
│ │1 │ │ │ │
│ │903 │ │ │ │
│ │1 │ │ │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│68 │902 │10 │총탄화수소 │엔진 시험 중 배출되는 증발 가스에 포함된 │
│ │7 │80 │분석기 │총탄화수소(Total Hydrocarbon, THC)를 │
│ │903 │ │ │탄소등가농도 0피피엠씨(ppmC)부터 │
│ │1 │ │ │200,000피피엠씨까지의 범위 내에서 측정 │
│ │ │ │ │가능하며, 재현성이 풀 스케일(Full Scale)에서 │
│ │ │ │ │±0.1퍼센트(%) 이내인 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│69 │9027 │10 │질량분석기 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9031 │80 │(질량검출기를 │한다. │
│ │ │ │포함한다) │ 1. 진공상태에서 시료를 가열하고 승화시켜, │
│ │ │ │ │온도 변화에 따른 열중량의 변화를 측정하고 │
│ │ │ │ │질량을 분석할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 2. 가스를 정성 또는 정량 분석할 수 있는 │
│ │ │ │ │것으로서 시료를 이온화시켜 질량별로 분리할 │
│ │ │ │ │수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 3. 진공상태에서 시료를 이온화시켜 질량별로 │
│ │ │ │ │분석 또는 검출할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 4. 시료에 이온빔을 주사(走査)하여 방출되는 │
│ │ │ │ │2차 이온의 비행시간을 측정하는 방식으로 │
│ │ │ │ │질량을 측정할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 5. 크로마토그래피 방식으로 분리된 단일이온을 │
│ │ │ │ │열과 전압을 주어 이온화하고 이온화된 │
│ │ │ │ │이온의 질량을 검출할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│70 │9027 │10 │가스분석기 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9031 │80 │ │한다. │
│ │ │ │ │ 1. 일산화탄소, 이산화탄소, 탄화수소, │
│ │ │ │ │질소산화물, 산소, 수소, 메탄황산화물 또는 │
│ │ │ │ │암모니아 중 두 가지 이상을 동시에 분석할 수 │
│ │ │ │ │있는 것 │
│ │ │ │ │ 2. 세 가지 이상의 가스를 동시에 분석 또는 │
│ │ │ │ │측정할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 3. 풀 스케일(Full Scale) 시 재현성이 │
│ │ │ │ │±1퍼센트(%) 이하인 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│71 │9027 │10 │블로바이(Blow │자동차의 블로바이(Blow-by) 가스 유량을 측정하 │
│ │9031 │80 │-by)가스측정기 │는 것으로서 측정 오차 범위가 ±1.5퍼센트(%) 이 │
│ │ │ │ │하인 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│72 │9027 │10 │매연측정기 │자동차 배기가스 측정용으로서 광투과 방식, 여지 │
│ │9031 │80 │ │반사식(濾紙反射式, Filter Paper Method) 또는 광 │
│ │ │ │ │음향(Photo Acoustic) 방식인 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│73 │9027 │10 │연소해석기 │엔진연소실에서 측정된 엔진연소압 등을 크랭크 │
│ │9031 │80 │ │(Crank) 각도 또는 시간 단위로 취득하여 처리 또 │
│ │ │ │ │는 계산할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│74 │9030 │20 │오실로스코프 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9030 │84 │(Oscilloscope) │한다. │
│ │9030 │89 │ │ 1. 스토리지(Storage) 방식, 포스퍼(Phosphor) 방식 │
│ │ │ │ │또는 샘플링(Sampling) 방식의 디지털 │
│ │ │ │ │오실로스코프(Digital Oscilloscope) │
│ │ │ │ │ 2. 측정 주파수가 1기가헤르츠(㎓) 이상이거나 │
│ │ │ │ │입력 채널(Channel) 수가 2개 이상인 것 │
│ │ │ │ │ 3. 고선명 텔레비전(HDTV, High Definition │
│ │ │ │ │Television) 신호의 아날로그(Analogue) │
│ │ │ │ │파형(波形)을 측정할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 4. 벡터 스코프(Vector Scope) 방식 또는 │
│ │ │ │ │디지털 방식인 것 │
│ │ │ │ │ 5. 입력 채널(Channel)이 4채널 이상인 것 │
│ │ │ │ │ 6. 스펙트럼(Spectrum) 분석이 가능한 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│75 │9030 │31 │다기능측정기 │전압, 전류, 주파수, 저항, 압력, 온도 또는 │
│ │9030 │32 │(Multimeter) │전기신호 중 두 가지 이상을 측정할 수 있는 것 │
│ │9030 │84 │또는 │ │
│ │9030 │89 │전자부하기 │ │
│ │ │ │(Electronic │ │
│ │ │ │Rod) │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│76 │9030 │33 │저항 측정기 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9030 │39 │또는 │한다. │
│ │ │ │제베크(Seebeck) │ 1. 반도체(복합구조칩을 포함한다), │
│ │ │ │계수 측정기 │평판디스플레이 또는 이차전지 연구용으로서, │
│ │ │ │ │웨이퍼박막, 글래스기판박막, 필름 또는 │
│ │ │ │ │분체(粉體)의 저항을 측정할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 2. 스트레스전압의 범위가 100볼트(V) 이상 │
│ │ │ │ │1,100볼트 이하인 것 │
│ │ │ │ │ 3. 시료에 전자빔을 조사(照射)하여 전류를 │
│ │ │ │ │증폭시켜 비접촉식으로 저항을 분석할 수 │
│ │ │ │ │있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│77 │9030 │33 │네트워크분석기 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9030 │39 │또는 │한다. │
│ │9030 │40 │회로망분석기 │ 1. 100메가헤르츠(㎒) 이상의 주파수를 측정할 │
│ │9030 │82 │ │수 있는 것 │
│ │9030 │84 │ │ 2. 동축케이블 연구용으로서 100메가헤르츠 │
│ │9030 │89 │ │이상의 고주파 대역에서 선로의 전기적 특성을 │
│ │9031 │80 │ │측정할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 3. 고주파를 반도체소자에 흐르게하여 소자의 │
│ │ │ │ │주파수 특성 및 임피던스(Impedance)를 │
│ │ │ │ │분석할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│78 │9030 │33 │주파수 측정기 │1메가헤르츠(㎒) 이상의 주파수를 측정할 수 있는 │
│ │9030 │39 │또는 주파수 │것 │
│ │9030 │84 │분석기 │ │
│ │9030 │89 │ │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│79 │9030 │33 │전자파측정기 │1기가헤르츠(㎓) 이상의 주파수를 측정할 수 있는 │
│ │9030 │39 │(SAR Scanning │것 │
│ │9030 │84 │System) │ │
│ │9030 │89 │ │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│80 │9030 │33 │반도체소자측정 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9030 │39 │기 또는 │한다. │
│ │9030 │84 │소스미터(Source │ 1. 평판디스플레이 박막트랜지스터(TFT, Thin │
│ │9030 │89 │Meter) │Film Transistor) 소자의 전기적 특성을 │
│ │ │ │ │측정하거나 전기적 신호를 전달할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 2. 전압과 전류의 측정 또는 분석이 가능한 │
│ │ │ │ │것으로서 기본 정밀도가 0.015퍼센트(%) │
│ │ │ │ │이상인 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│81 │9030 │33 │고전압배터리팩 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9030 │39 │충·방전기, │한다. │
│ │9030 │84 │배터리 │ 1. 연료전지 또는 차량용 전지팩의 성능을 │
│ │9030 │89 │충·방전설비 │측정할 수 있는 것 │
│ │9031 │80 │또는 강유전체 │ 2. 이차전지 또는 연료전지의 충전 또는 │
│ │ │ │(Ferroelectric) │방전시험이 가능한 것 │
│ │ │ │특성 측정기 │ 3. 절연체의 강유전체 및 정전용량 특성을 │
│ │ │ │ │측정할 수 있는 장비로서 측정 가능한 │
│ │ │ │ │분극(Polarization) 이력(Hysteresis)의 주파수 │
│ │ │ │ │범위가 0.001헤르츠(㎐) 이상 5킬로헤르츠(㎑) │
│ │ │ │ │이하인 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│82 │9030 │33 │전력 또는 전류 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9030 │39 │분석기(전력 │한다. │
│ │9030 │84 │또는 전류 │ 1. 컴퓨터 제어 방식으로 전력량계의 소요전력을 │
│ │9030 │89 │측정기를 │측정 및 분석하는 것으로서, 입력 │
│ │9031 │80 │포함한다) │채널(Channel) 수가 3개 이상이거나 측정 오차 │
│ │ │ │ │범위가 ±0.05퍼센트(%) 이하인 것 │
│ │ │ │ │ 2. 측정 주파수가 100킬로헤르츠(㎑) 이상인 것 │
│ │ │ │ │ 3. 전원특성 및 임피던스(Impedance)를 분석할 │
│ │ │ │ │수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 4. 1마이크로암페어(㎂) 이하의 전류를 측정할 │
│ │ │ │ │수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│83 │9030 │84 │전기적 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9030 │89 │물성(物性) │한다. │
│ │ │ │측정기 또는 │ 1. 반도체, 이차전지, 연료전지 또는 태양전지 │
│ │ │ │임피던스(Imped │연구용으로서 전기화학적 특성 또는 반응을 │
│ │ │ │ance) 측정기 │측정할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 2. 주파수가 1기가헤르츠(㎓) 이상이고 두께가 │
│ │ │ │ │1밀리미터(㎜) 이하인 대상 재질의 유전율을 │
│ │ │ │ │측정할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│84 │9030 │84 │통신시험분석기 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9030 │89 │또는 데이터 │한다. │
│ │ │ │통신시험분석기 │ 1. 데이터 신호의 비트(Bit) 오류 또는 비트 │
│ │ │ │ │오류율의 시험이 가능한 것 │
│ │ │ │ │ 2. 통신 프로토콜(Protocol) 또는 지터(Jitter)의 │
│ │ │ │ │측정이 가능한 것 │
│ │ │ │ │ 3. 유에스비 포트(USB Port) │
│ │ │ │ │인터페이스(Interface)를 이용하는 장치로서 │
│ │ │ │ │프로토콜(Protocol) 분석이 가능한 것 │
│ │ │ │ │ 4. 이피씨(EPC, Evolved Packet Core)와 │
│ │ │ │ │아이피 멀티미디어시스템(IP Multimedia │
│ │ │ │ │Subsystem)을 측정할 수 있는 패킷(Packet)을 │
│ │ │ │ │생성할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│85 │9030 │84 │소음분석기 │주파수 측정 결과 오차 범위가 ±15피피엠(?) 이 │
│ │9030 │89 │ │하인 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│86 │9030 │84 │방사 챔버 │100메가헤르츠(㎒) 이상의 주파수를 측정할 수 │
│ │9030 │89 │(Reverberation │있는 것 │
│ │ │ │Chamber) │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│87 │9030 │84 │데이터 수집기, │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9030 │89 │연속데이터 │한다. │
│ │9031 │49 │분석기 또는 │ 1. 가속도 또는 속도의 동적 신호와, 휘도 또는 │
│ │9031 │80 │진동계측분석기 │색좌표의 광특성을 계측, 저장 및 분석할 수 │
│ │ │ │(Dynamic │있는 것 │
│ │ │ │Signal │ 2. 디지털 방식 또는 컴퓨터 제어 방식인 │
│ │ │ │Analyzer) │것으로서 분석 기능이 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│88 │9030 │84 │모의시험기, │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9030 │89 │전자제어장치에 │한다. │
│ │9031 │80 │뮬레이터(ECU │ 1. 자동차용 배터리의 충전 및 방전 모의시험을 │
│ │ │ │Emulator) │할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 2. 채널 에뮬레이션(Channel Emulation)이 │
│ │ │ │ │가능한 것 │
│ │ │ │ │ 3. 전자제어장치(ECU)의 소프트웨어를 설계할 │
│ │ │ │ │수 있으며 자동으로 코드를 생성하고 시험할 │
│ │ │ │ │수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│89 │9030 │84 │논리회로분석기 │100메가헤르츠(㎒) 이상의 주파수를 측정할 수 │
│ │9030 │89 │ │있는 것 │
│ │9031 │80 │ │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│90 │9030 │89 │제타 전위 │제타 전위(Zeta Potential)를 측정할 수 있는 것 │
│ │ │ │측정기 │ │
│ │ │ │(Zeta Potential │ │
│ │ │ │Analyzer) │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│91 │9031 │49 │응력(應力) │인쇄회로기판에 접착된 박막·납볼·와이어, 반도체 │
│ │ │ │측정기 │칩(Chip), 반도체소자 또는 평판디스플레이 부품 │
│ │ │ │ │의 응력(應力)을 통하여 탄성율(modulus)을 측정 │
│ │ │ │ │할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│92 │903 │49 │자동 광학 │415밀리미터(㎜) × 510밀리미터 이내 크기의 │
│ │1 │ │검사기 │인쇄회로기판 또는 포토레지스트(Photo resist, │
│ │ │ │(Automatic │PR)의 검사가 가능한 것 │
│ │ │ │Optical │ │
│ │ │ │Inspection) │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│93 │9031 │49 │3차원측정기(비 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9031 │80 │접촉 3차원 │한다. │
│ │ │ │측정기를 │ 1. 레이저를 이용한 방식으로서 측정 대상물의 │
│ │ │ │포함한다), │형상측정분해능력이 1마이크로미터(㎛) 이상인 │
│ │ │ │3차원스캐너, │것 │
│ │ │ │형상측정기, │ 2. 비전 스캐닝(Vision Scanning)방식 또는 │
│ │ │ │진원도측정기 │광학(Optical)계측방식을 이용하여 측정 후 그 │
│ │ │ │또는 │결과를 3차원 또는 2차원으로 나타낼 수 있는 │
│ │ │ │균형측정기 │것 │
│ │ │ │ │ 3. 엑스(X)·와이(Y)·제트(Z) 축의 측정범위가 │
│ │ │ │ │모두 각각 2,000밀리미터(㎜) 이상이거나, │
│ │ │ │ │탐침자(Probe)의 이송속도가 초당 │
│ │ │ │ │100밀리미터 이상인 것 │
│ │ │ │ │ 4. 리니어 엔코더(Linear Encoder)방식으로 │
│ │ │ │ │분해능력이 0.01마이크로미터 이상인 것 │
│ │ │ │ │ 5. 가로 및 세로의 길이가 각각 │
│ │ │ │ │450나노미터(㎚)이고 높이가 200나노미터인 │
│ │ │ │ │물체를 측정할 수 있는 것 │
│ │ │ │ │ 6. 자동 포커스(Auto Focus) 기능을 가진 것 │
│ │ │ │ │ 7. 측정 정도 또는 분해능(Resolution)이 │
│ │ │ │ │±1마이크로미터 이하인 것 │
│ │ │ │ │ 8. 자동차 엔진부품의 형상측정용으로서 │
│ │ │ │ │분해능이 0.1마이크로미터까지 가능하며 │
│ │ │ │ │표시정확도의 오차범위가 ±1.81마이크로미터 │
│ │ │ │ │이하인 것 │
│ │ │ │ │ 9. 평행도 측정을 위해 0.02밀리미터이하의 │
│ │ │ │ │분해능이 가능한 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│94 │903 │80 │공기 유량계 │자동차 엔진 연구용으로서 엔진 내 흡기 및 │
│ │1 │ │ │배기 유량 데이터를 컴퓨터 제어 방식으로 │
│ │ │ │ │수집이 가능한 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│95 │9031 │80 │입자(Particle) │0.3마이크로미터(㎛) 이상의 입자를 측정할 수 │
│ │ │ │수 측정기 │있는것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│96 │9031 │80 │유전율 │주파수 측정범위가 10마이크로헤르츠(μ㎐) 이상 │
│ │ │ │(誘電率)측정기 │110기가헤르츠(㎓) 이하인 것 │
│ │ │ │(Dielectric │ │
│ │ │ │constant, │ │
│ │ │ │dielectric loss │ │
│ │ │ │tangent, │ │
│ │ │ │permeability │ │
│ │ │ │measurement │ │
│ │ │ │system) │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│97 │903 │80 │압력 편차 │1미터(m) 당 최대 2,000뉴턴(N)의 압력을 │
│ │1 │ │측정기 │측정할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│98 │903 │80 │OLED │절대온도 150켈빈(K)이상 350켈빈이하의 온도 │
│ │1 │ │물성측정기 │조건에서 물성을 측정할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│99 │903 │80 │전자스핀공명 │시편에 자기장을 가하여 물질 내의 전자구조에 │
│ │1 │ │(Electron Spin │대한 정보를 분석할 수 있는 것 │
│ │ │ │Resonance) │ │
│ │ │ │측정기 │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│100 │903 │80 │변조전달함수 │렌즈의 변조전달함수(MTF)를 측정할 수 있는 │
│ │1 │ │(MTF)측정기 │것으로, 최대 입사각도(Off-Axis)의 범위가 │
│ │ │ │ │±105도(°)이고 0.5밀리미터(㎜) 이상 3밀리미터 │
│ │ │ │ │이하 범위의 유효 초점거리(Effective focal │
│ │ │ │ │length)에서 정확도가 ±5마이크로미터(㎛)이내 │
│ │ │ │ │인 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│101 │903 │80 │피부분석기 │피부의 구조, 수분 함유량, 수분 증발량, 유분 │
│ │1 │ │ │함유량, 탄성도, 수소이온농도(pH) 및 온도를 │
│ │ │ │ │분석할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│102 │903 │80 │수분투과도 │측정 가능한 수분 투과량이 │
│ │1 │ │측정기 │50제곱센티미터(㎠)의 면적을 기준으로 │
│ │ │ │ │1제곱미터(㎡) 당 0.00005그램(g) 이상 5그램 │
│ │ │ │ │이하 인 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│103 │903 │80 │접촉에너지 │박막을 냉각 또는 열처리하여 접촉에너지를 │
│ │1 │ │측정기 │측정할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│104 │903 │80 │족압측정기 │보행자의 족압(足壓)을 측정할 수 있는 소자를 │
│ │1 │ │ │256개 이상 갖춘 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│105 │9031 │80 │편심중량 │편심중량 (unbalanced weight)을 │
│ │ │ │측정기 │0.01그램센티미터(g㎝)이하의 분해능으로 측정할 │
│ │ │ │ │수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│106 │9031 │80 │화학흡착분석장 │온도는 5도(℃)부터 85도까지, 상대습도는 0퍼센 │
│ │ │ │비 │트(%)부터 98퍼센트까지의 범위에서 환경을 조절 │
│ │ │ │ │할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│107 │9031 │80 │무선계측장치 │타이어에서 발생하는 신호[가속도, 스트레인 │
│ │ │ │ │(Strain) 및 온도의 동적신호]를 16채널(Channel) │
│ │ │ │ │로 계측, 저장 및 분석할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│108 │9031 │80 │초음파 │측정대상에 초음파를 송·수신하여 내부의 단면을 │
│ │ │ │송수신기 │영상화할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│109 │9031 │80 │전자기식 │싸인(Sine) 또는 랜덤(Random) 진동시험을 할 수 │
│ │ │ │진동시험기 │있는 것 │
│ │ │ │(Electro │ │
│ │ │ │Magnetic │ │
│ │ │ │Vibration Test │ │
│ │ │ │System) │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│110 │9031 │80 │수분 함량 측정 │수분 함량을 0피피엠(?)부터 │
│ │ │ │장치 │1,000,000피피엠까지의 범위로 측정이 가능한 │
│ │ │ │ │것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│111 │9031 │80 │기어(Gear)측정 │기어(Gear)의 피치(Pitch), 나선각(螺旋角) 및 흔 │
│ │ │ │기 │들림을 측정할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│112 │9031 │80 │기공도측정기( │기공율(氣孔率), 공극크기(Pore Size) 분포도, 비표 │
│ │ │ │Pore Size │면적, 흡수율, 투과율 또는 압축률의 분석이 가능 │
│ │ │ │Analyzer) │한 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│113 │9031 │80 │연료소비량 │자동차 엔진에서 소모되는 연료량을 측정하는 것 │
│ │ │ │측정기 │으로서 중량 측정 방식 또는 부피 측정 방식인 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│114 │9031 │80 │생체전기신호 │16채널(Channel) 이상을 지원하는 것 │
│ │ │ │측정기 │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│115 │9031 │80 │다각 │측정 가능한 분자량의 범위가 200돌턴(Da)부터 1 │
│ │ │ │광산란(Multi │메가돌턴(MDa)까지이고, 측정 가능한 분자의 크 │
│ │ │ │Angle Light │기가 10나노미터(㎚)부터 300나노미터까지인 것 │
│ │ │ │Scattering) │ │
│ │ │ │검출기 │ │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│116 │9031 │80 │가스투과도 │차압법을 이용하여 가류(加硫) 고무 등의 시편(試 │
│ │ │ │시험기 │片)에 대한 기체의 투과도를 측정할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│117 │903 │80 │전자식 수평 │정현반파의 사용이 가능하거나 │
│ │1 │ │충격 시험기 │100중력(G)이상의 최대 가속도를 구현할 수 │
│ │ │ │ │있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│118 │903 │80 │노면 프로파일 │레이저 센서와 레이저 센서 이동을 위한 │
│ │1 │ │측정 장비 │벨트체인(Belt chain) 및 210센티미터(㎝)길이의 │
│ │ │ │ │레이저 센서의 이동을 위한 기둥을 갖춘 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│119 │9031 │80 │동력시험기, │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 한정 │
│ │9032 │89 │동력시험기기 │한다. │
│ │ │ │제어기 또는 │ 1. 와전류형(Eddy Current Type), 직류형(DC │
│ │ │ │엔진다이나모 │Type), 교류형(AC Type) 또는 │
│ │ │ │테스트기 │수력형(Hydraulic Type)으로서 분당 회전수 │
│ │ │ │(Engine │측정오차 범위가 ±0.5퍼센트(%) 이하인 것 │
│ │ │ │Dynamo │ 2. 자동차, 엔진(가스터빈용 포함) 또는 변속기 │
│ │ │ │Tester) │시험용으로서 동력흡수 능력이 │
│ │ │ │ │200킬로와트(㎾) 이상인 것 │
│ │ │ │ │ 3. 자동차, 선박 또는 자동차타이어 │
│ │ │ │ │연구용으로서, 컴퓨터제어 방식으로 │
│ │ │ │ │동력시험기기 제어 및 데이터수집이 가능한 것 │
│ │ │ │ │ 4. 자동차 또는 변속기 시험용으로서 동력흡수 │
│ │ │ │ │능력이 100킬로와트 이상 350킬로와트 이하인 │
│ │ │ │ │것 │
│ │ │ │ │ 5. 피스톤과 실린더 사이에서 새는 블로바이 │
│ │ │ │ │가스(Blow-by Gas)와 엔진오일 소모량을 │
│ │ │ │ │측정할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│120 │903 │80 │인체모형 │다음 각 호의 어느 하나에 해당하는 것으로 │
│ │1 │00 │ │한정한다. │
│ │961 │ │ │ 1. 인체 세포와 유사한 젤(Gel) 물질이 주입된 │
│ │8 │ │ │인체 모형으로서 300메가헤르츠(㎒)이상 │
│ │ │ │ │6기가헤르츠(㎓)이하 범위의 무선 주파수 │
│ │ │ │ │흡수가 가능한 것 │
│ │ │ │ │ 2. 성인의 신체를 모사한 마네킹으로 위생재 │
│ │ │ │ │성능을 평가할 수 있고, 투명한 실리콘으로 │
│ │ │ │ │만들어져 주입 상태를 확인할 수 있는 것 │
├──┼───┼──┼─────────┼─────────────────────────┤
│121 │940 │90 │자기쉴드챔버 │직류(DC) 자장 또는 교류(AC) 자장을 │
│ │6 │ │(Magnetically │0.03마이크로테슬라(μT)까지 제어할 수 있는 것 │
│ │ │ │Shield Room │ │
│ │ │ │and Chamber) │ │
└──┴───┴──┴─────────┴─────────────────────────┘
개정이유
[일부개정]
◇ 개정이유 및 주요내용
기업의 연구 및 투자 활성화를 효율적으로 지원하기 위하여 산업기술 연구ㆍ개발용 물품으로서 관세감면대상으로 정하고 있던 133개 품목 중 전기스팀보일러, 가스터빈의 로터 등 41개 품목을 제외하고, 다이부착기, 저온 필터막힘점 시험기 등 29개 품목을 추가하여 총 121개의 품목에 대한 관세를 감면하려는 것임.
<기획재정부 제공>